掃描電子顯微鏡的性能特點介紹

        掃描電鏡性能特點介紹
        掃描電鏡的種類繁多，不同種類的掃描電鏡在性能上也存在差異。根據電子槍的類型，可分為場發射電子槍、鎢絲槍和六硼化鑭三種類型[5]。其中，場發射掃描電子顯微鏡按光源性能可分為冷場發射掃描電子顯微鏡和熱場發射掃描電子顯微鏡。冷場發射掃描電鏡對真空條件要求高，光束不穩定，發射器壽命短，需要定期清洗針尖。可長時間工作，并可與多種配件組合，實現綜合分析。在地質領域，我們不僅需要觀察樣品的初始形態，還需要結合分析儀分析樣品的其他性質，因此熱場發射掃描電鏡的應用更為廣泛。
        掃描電子顯微鏡（SEM）是一種用于高分辨率顯微形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、分辨率高、成像直觀、三維感強、放大倍率范圍廣、待測樣品可在三維空間內旋轉和傾斜等特點。此外，它還具有可測量樣品種類豐富，對原始樣品幾乎無損傷和污染，同時獲取形貌、結構、成分和晶體學信息等優點。目前，掃描電鏡已廣泛應用于生命科學、物理、化學、司法、地球科學、材料科學、工業生產等領域的顯微研究。 、沉積學、地球化學、寶石學、微型古生物學、天文地質學、油氣地質學、工程地質學和構造地質學等。
         SEM雖然是顯微鏡家族中的hou起之秀，但由于其諸多優勢，其發展速度非常快。
         1 儀器分辨率高，通過二次電子圖像可以觀察到樣品表面約6 nm的細節。提高到 3nm。
         2 儀器放大倍率變化范圍廣，可連續調節。因此，可以根據需要選擇不同的視場進行觀察，同時在高倍率下可以獲得高亮度、清晰的圖像，這是一般透射電鏡難以做到的。
         3 觀察樣品景深大，視野大，圖像充滿立體感。
         4 制樣簡單，大塊或粉狀樣品只要稍加處理或不加處理，即可直接放入掃描電鏡觀察，更接近材料的自然狀態。
         5圖像質量可以通過電子方式進行有效控制和改善，例如自動保持亮度和對比度、樣品傾斜角度校正、圖像旋轉，或通過Y調制來提高圖像對比度的緯度，以及圖像各部分的亮度。圖像 中等偏暗。使用雙倍放大裝置或圖像選擇器，可以在熒光屏上同時觀察不同放大倍率的圖像。
         6 可以進行綜合分析。配備波長色散X射線光譜儀（WDX）或能量色散X射線光譜儀（EDX），具有電子探針功能，還可檢測反射電子、X射線、陰極熒光、透射電子、俄歇由樣品電子等發出。將SEM的應用擴展到各種微觀和微觀區域分析方法，顯示了SEM的多功能性。此外，還可以在觀察形貌圖像的同時分析樣品的可選微區；附上半導體樣品架，通過電動勢圖像放大器可以直接觀察晶體管或集成電路中的PN結和微觀缺陷。由于許多SEM電子探針實現了電子計算機的自動和半自動控制，大大提高了定量分析的速度。