紫外可見分光光度計|UV757CRT

主機功能：紫外可見分光光度計|UV757CRT紫外可見分光光度計|UV757CRT
        采用微機測量系統，T-A轉換精確，自動調整0%（T）和調整100%（T），具有GOTOλ，自動8聯樣品架，自動扣除比色皿誤差，濃度多點標定，斜率和截距設置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印機，另行選配）。

聯機功能：
       通過RS232串行接口，可利用上層軟件作全波長掃描，時間掃描，濃度回歸方程（1次、2次、3次），多波長測試，并大大擴展測試功能（除主機功能外）。

技術指標：
● 波長范圍：200nm～1000nm
● 光源：鎢鹵素燈12V20W（進口） DD2.5氘燈（進口）
● 接收元件：光電池
● 波長zui大允許誤差：±0.5nm
● 波長重復性：≤0.2nm
● 光譜帶寬：2nm
● 雜散光：≤0.3%（T）（在220nm處和360nm處，以NaNO2測定）
● 透射比測量范圍：0.0%（T）～200.0% （T）
● 吸光度測量范圍：-0.301（A）～4.000（A）
● 透射比zui大允許誤差：±0.5%（T）
● 透射比重復性：≤0.2%（T）
● 噪聲：100%噪聲≤0.5%（T） 0%噪聲≤0.2%（T）
● 穩定性：≤0.004A/30min

其它：
● 電源：AC220V±22V  50Hz±1Hz

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SG3ELK   SG3ELK742   SG2T   SG3B   SG3ELK   SG3FK2  SG3FK10   SG6ELK   SG6FK2   SG6FK10  SG7B   SG7ELK 

 SG7ELK742   SG7FK2   SG8B   SG8ELK